终端天线阵元间相位差的测试方法、修正方法及测试设备
授权
摘要
本申请公开一种终端天线阵元间相位差的测试方法，步骤如下：选取基准阵元和比较阵元，先让基准阵元发射第一路信号和第二路信号，获取对应相位参数φA1和相位参数φB1并做归一化处理；让基准阵元持续输出第一路信号，获取对应相位参数φA1，第二路信号由比较阵元按序切换发射，获取对应相位参数φB2、φB3…φBN，计算φB2与φA1的差值、φB3与φA1的差值…φBN与φA1的差值，得到比较阵元B极化信号与基准阵元的A极化信号之间的相位差。本申请终端天线阵元间相位差的测试方法通过归一化处理实现终端产品中天线阵元的相位差测试，避免对终端产品的拆卸。本申请还提供一种终端天线阵元间相位差的修正方法和测试设备。
基本信息
专利标题 ：
终端天线阵元间相位差的测试方法、修正方法及测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113132025A
申请号 ：
CN201911400376.0
公开（公告）日 ：
2021-07-16
申请日 ：
2019-12-30
授权号 ：
CN113132025B
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
丁金义张春华徐飞赵彬
申请人 ：
华为技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
熊永强
优先权 ：
CN201911400376.0
主分类号 ：
H04B17/00
IPC分类号 ：
H04B17/00 H04B17/10 G01R29/10 G01R25/00
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法律状态
2022-06-14 ：
授权
2021-08-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 17/00
申请日 : 20191230
申请日 : 20191230
2021-07-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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