高低温测试设备及其测试方法

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摘要

本发明涉及一种高低温测试设备及其测试方法，其主要包括压接头及测试基座，压接头内包括降温模块、升温模块及散热模块，散热模块包括散热鳍片及导热件，而导热件组装于升温模块和散热鳍片之间。其中，当进行低温测试时，对压接头的降温模块内充填液态氮气而开始对电子元件降温；当进行高温测试时，升温模块对电子元件升温，而电子元件的温度高于高温特定值后，通过散热模块对电子元件降温。借此，进行低温测试时，能迅速降温；进行高温测试时，除了能迅速升温外，又可有效地对测试中的电子元件进行散热，以维持于特定的测试温度。

基本信息

专利标题：

高低温测试设备及其测试方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110749783A

申请号：

CN201810816854.5

公开（公告）日：

2020-02-04

申请日：

2018-07-24

授权号：

CN110749783B

授权日：

2022-05-10

发明人：

吴信毅

申请人：

致茂电子股份有限公司

申请人地址：

中国台湾桃园市龟山区华亚一路66号

代理机构：

北京三幸商标专利事务所(普通合伙)

代理人：

刘卓然

优先权：

CN201810816854.5

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00