一种高低温测试设备
授权
摘要
本实用新型属于测试治具技术领域，涉及一种高低温测试设备，包括：测试箱体及密封保温装置，所述密封保温装置内还设有用于放置待测试PCBA板的安装区域，所述测试箱体上设有测试接口，待测试PCBA板通过连接导线与测试接口电性连接，所述密封保温装置包括：从上至下依次安装的罩体组件、第一密封件、第二密封件，所述第一密封件上设有中空区域，以使所述第一密封件与所述第二密封件之间能够形成安装区域，且所述第一密封件的下端面与第二密封件的上端面紧密接触，所述测试箱体内设有调温组件，所述调温组件与所述密封保温装置连通。
基本信息
专利标题 ：
一种高低温测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122893049.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-24
授权号 ：
CN216670185U
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
黄庆云
申请人 ：
深圳市振云精密测试设备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区107国道润东晟工业区13栋2层13栋1层B、13栋5层B、8栋1层
代理机构 ：
深圳市龙成联合专利代理有限公司
代理人 ：
陈蓉
优先权 ：
CN202122893049.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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