一种高低温冲击测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种高低温冲击测试设备，包括气源，联结所述气源的主气路，输入端与所述主气路输出端联结的第一气路，安装在所述第一气路上的制冷装置，安装在所述第一气路上的加热装置，安装在所述第一气路上的热流罩；输入端与所述主气路输出端联结的第二气路，所述第二气路的输出端联通设置在所述热流罩外侧的气体隔绝层，与所述主气路输出端联结的第三气路，与所述第三气路输出端联结的行程气缸，所述行程气缸与和所述热流罩联结的所述加热装置联结；本实用新型能够更好的提升温控能力和温控精度，使得操作监控等更加便捷。
基本信息
专利标题 ：
一种高低温冲击测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021916036.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-04
授权号 ：
CN213302424U
授权日 ：
2021-05-28
发明人 ：
余双林
申请人 ：
江苏天一瑞合仪器设备有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号6号房
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021916036.1
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/02 G05D23/19
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-05-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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