一种用于高低温冲击测试实验设备的热流罩
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摘要
本实用新型公开了一种用于高低温冲击测试实验设备的热流罩,热流罩包括热流罩内腔和形成热流罩内腔的热流罩壁,热流罩壁上板具有不与气体隔绝层相通的热流罩饱和出气平衡口,热流罩饱和出气平衡口出口通向外部环境,热流罩壁外侧设有气体隔绝层,气体隔绝层包括上气体隔绝层和侧气体隔绝层,上气体隔绝层与安装在高低温冲击测试实验设备的第二气路相联,上气体隔绝层和侧气体隔绝层联通,上气体隔绝层上板具有多个微出气孔,侧气体隔绝层下部具有出气通道,侧气体隔绝层为透明结构;本实用新型使得内部环境更加稳定,外侧气体隔绝层由于多孔设计,能够使得隔绝层的气流稳定,进一步保证了内部气氛环境的稳定,从而可以提升整体设备的测试性能。
基本信息
专利标题 :
一种用于高低温冲击测试实验设备的热流罩
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021914262.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-04
授权号 :
CN213122186U
授权日 :
2021-05-04
发明人 :
余双林
申请人 :
江苏天一瑞合仪器设备有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号6号房
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021914262.6
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-05-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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