确定磁导系数的方法
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摘要
本公开涉及一种确定磁导系数的方法，以解决相关技术中无法测量非圆柱体、非长方体、非椭球体等形状磁体磁导系数的问题。该方法用于确定任意形状磁体的磁导系数，包括：确定磁体样品在第一温度下的第一退磁曲线，并根据第一退磁曲线，确定第一剩余磁感应强度和第一矫顽力值；确定磁体样品在第二温度下的第二退磁曲线，并根据第二退磁曲线，确定第二剩余磁感应强度和第二矫顽力值，第二温度大于第一温度；确定磁体样品从第三温度升温至第二温度、再降温至第三温度的减磁率；按照相应公式，确定磁体样品的磁导系数。
基本信息
专利标题 ：
确定磁导系数的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113126008A
申请号 ：
CN201911421707.9
公开（公告）日 ：
2021-07-16
申请日 ：
2019-12-31
授权号 ：
CN113126008B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
孙珊珊史学伟王进东钮萼王湛饶晓雷胡伯平
申请人 ：
北京中科三环高技术股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村东路66号甲1号长城大厦27层
代理机构 ：
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
魏嘉熹
优先权 ：
CN201911421707.9
主分类号 ：
G01R33/12
IPC分类号 ：
G01R33/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/12
测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2021-08-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/12
申请日 : 20191231
申请日 : 20191231
2021-07-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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