本实用新型公开了一种半导体导电性检测用辅助装置，包括固定台，所述固定台的上表面设置有半导体本体，所述半导体本体的一侧设置有挡板，所述挡板焊接在固定台上，所述挡板的顶部焊接有支撑板，所述支撑板内部滑动设置有滑杆，所述滑杆的底端焊接有压板，所述支撑板内部开设有滑槽，所述滑槽内部滑动设置有推板，所述推板的一侧通过轴承转动设置有旋紧螺栓，所述旋紧螺栓与支撑板螺纹连接。本实用新型通过设置压板，并通过滑动滑杆将压板滑动到半导体本体的上表面，然后通过旋紧旋紧螺栓，使旋紧螺栓推动推板对滑杆进行压紧，对滑杆进行固定，从而实现对半导体本体的固定，避免在导电性检验时，半导体本体发生移动的情况。