一种基于超宽带天线传感器的绝缘子劣化检测装置

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摘要

本实用新型公开了一种基于超宽带天线传感器的绝缘子劣化检测装置，其包括天线介质基板，天线介质基板的上下表面分别设有基本辐射单元和接地板，基本辐射单元为超宽带单极子天线，基本辐射单元的底部为弧形边、上部为直线型边，基本辐射单元的底部靠近天线介质基板的底边、上部靠近天线介质基板的顶边，基本辐射单元底部弧形边的中心位置一体连接有延伸至天线介质基板底边的延伸条，接地板为紧贴天线介质基板底边的长条形结构。本实用新型通过超宽带单极子天线对绝缘子发出的电磁波进行分析判断，超宽带天线能够工作于低频段，因为正常绝缘子和裂化的绝缘子所发出的电磁波的强度不同，所以可根据电磁波的强度来进行绝缘子是否劣化进行判断。

基本信息

专利标题：

一种基于超宽带天线传感器的绝缘子劣化检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920437989.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-04-02

授权号：

CN210038034U

授权日：

2020-02-07

发明人：

李伟马天驰裴蕴智

申请人：

中科伟博（苏州）智能科技有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市张家港市塘桥镇妙桥科创路东城科技创业园C幢2楼中科伟博

代理机构：

南京天华专利代理有限责任公司

代理人：

夏平

优先权：

CN201920437989.0

主分类号：

G01R31/12

IPC分类号：

G01R31/12