一种物理分析中使用的块状样品盒
授权
摘要
一种物理分析中使用的块状样品盒，包括盒座、盒座上设置的弹簧、弹簧上覆盖的托盘、覆罩在盒座上且能让托盘通过弹簧在其内部上下弹动的盒罩，盒罩顶部开有辐照孔而底部内侧设有卡槽，盒座设有卡合机构，通过卡合机构与卡槽的配合，能实现盒罩与盒座的快速有效卡合连接锁定或解除卡合连接，消除了因样品盒旋转而引起盒罩与盒座连接松脱的隐患，提高了样块放置、更换效率，简化了盒罩与盒座卡合连接锁定的操作方式，且能保证样块不至盒罩的旋转而损坏；本实用新型设计新颖、结构简单、操作方便、效果明显，因此，极具推广应用价值。
基本信息
专利标题 ：
一种物理分析中使用的块状样品盒
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920452005.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-04
授权号 ：
CN209927753U
授权日 ：
2020-01-10
发明人 ：
魏鹏谢帮平
申请人 ：
上海为肯工业设计有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区张衡路1000弄2号309室
代理机构 ：
上海欣创专利商标事务所
代理人 ：
袁会庆
优先权 ：
CN201920452005.6
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-01-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
