一种XRD块状样品测试架
授权
摘要

本实用新型提供一种XRD块状样品测试架,XRD块状样品测试架包括:测试基板、挡板组件和四个螺丝钉,测试基板开设有方形样品槽,方形样品槽沿测试基板的厚度方向贯穿测试基板的相对两表面;挡板组件包括四个第一挡板,四个第一挡板均固定于测试基板的同一表面,并依次围设于方形样品槽之四个槽边的外侧,四个第一挡板均开设有第一螺纹孔;螺丝钉与第一螺纹孔相适配,四个螺丝钉对应插设于四个第一螺纹孔内。本实用新型的XRD块状样品测试架能够有效地保证了块状样品测试平面的平整度,保证了测试结果的准确性。并且,结构较为简单,对块状样品的形状、大小无特别要求,普适性较强。

基本信息
专利标题 :
一种XRD块状样品测试架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122807074.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-16
授权号 :
CN216247743U
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
夏晓帆范广新王洋刘孟杰
申请人 :
河南理工大学
申请人地址 :
河南省焦作市高新区世纪大道2001号
代理机构 :
北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘春成
优先权 :
CN202122807074.4
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2022-04-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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