一种可调节块体样品xrd测试样品架
授权
摘要

本实用新型公开了一种可调节块体样品xrd测试样品架,包括:设置在安装架体上的调整组件,安装架体顶面设置装配槽,装配槽侧面设置贯穿的检测通道,装配槽底部设置下固定板,安装架体上部设置上固定板,在安装支架内侧面设置若干导向凸起,若干导向凸起沿竖直方向延伸;调整组件包括:设置在下固定板上的若干轴承环,若干轴承环均转动连接旋转螺栓,旋转螺栓连接上固定板,在上固定板底面设置压力传感器。通过多个旋转螺栓转动连接下安装板,能够根据块状样品的大小调整上固定板与下固定板之间的距离,适用于不同尺寸的待测样品,保证被测试平面与样品架平面始终共面,从而能够满足衍射仪几何所规定的聚焦条件,提高样品检测数据的精度。

基本信息
专利标题 :
一种可调节块体样品xrd测试样品架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122521751.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-20
授权号 :
CN216309847U
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
赵文武郁建元黄雁王秀文郝斌刘剑
申请人 :
唐山学院
申请人地址 :
河北省唐山市大学西道9号
代理机构 :
苏州博格华瑞知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
匡立岭
优先权 :
CN202122521751.6
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2022-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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