一种用于块体材料精密X射线衍射测试的样品架
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摘要
一种用于块体材料精密X射线衍射测试的样品架，涉及X射线分析设备领域，包括：样品架主体、附属弹力单元，样品架主体上设有矩形槽，样品架主体外侧设有第一半凹槽；附属弹力单元尾端两侧分别设有第二半凹槽，附属弹力单元尾端与样品架主体前端连接，一个第一半凹槽与一个第二半凹槽对合形成一个凹槽，凹槽中安装有固定连接块，固定连接块分别通过螺钉连接样品架主体与附属弹力单元；附属弹力单元包括弹力单元主框架、附属弹力片，附属弹力片上穿过两根带有螺纹的相互平行的活动定位柱，两根活动定位柱中部分别固定安装有限位棘轮；该器件用以安装增大面积的块体无机非金属材料，实现提升其衍射强度。
基本信息
专利标题 ：
一种用于块体材料精密X射线衍射测试的样品架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922381092.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-26
授权号 ：
CN211627417U
授权日 ：
2020-10-02
发明人 ：
郭腾周珍杜永新周长山关敬云汪徐春
申请人 ：
安徽科技学院
申请人地址 ：
安徽省蚌埠市黄山大道1501号
代理机构 ：
合肥中博知信知识产权代理有限公司
代理人 ：
张加宽
优先权 ：
CN201922381092.3
主分类号 ：
G01N23/20025
IPC分类号 ：
G01N23/20025
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2020-10-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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