一种发光二极管光衰检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种发光二极管光衰检测装置,包括光衰检测装置本体,光衰检测装置本体顶端的一侧嵌设有第一引脚插排,光衰检测装置本体顶端的中部分别嵌设有第二引脚插排和第三引脚插排,第二引脚插排的一侧和第三引脚插排的一侧均固定设有标签槽,光衰检测装置本体底端的一侧通过开设有的电池槽卡合连接有圆形电池盖,圆形电池盖底端的中部固定连接有连接柱,本实用新型的有益效果是通过设有的第三防护条、第二防护条和第一防护条,起到良好的防尘作用,避免灰尘进入到插排的内孔中,影响光衰检测,通过设有的支撑板和侧耳,便于调节光衰检测装置本体的放置角度,便于检测人员更好的观察,避免出现误判。

基本信息
专利标题 :
一种发光二极管光衰检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920537487.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-19
授权号 :
CN209470853U
授权日 :
2019-10-08
发明人 :
孔凡伟段花山
申请人 :
山东晶导微电子股份有限公司
申请人地址 :
山东省济宁市曲阜市春秋东路166号
代理机构 :
济宁汇景知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘丽
优先权 :
CN201920537487.5
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2019-10-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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