近红外显微透过率测定仪
授权
摘要
本实用新型涉及透过率检测技术领域，特别涉及一种近红外显微透过率测定仪，检测平台用于托撑待检测物品，从光源射出的光线经过聚焦单元聚焦后照射在待检测物品上，从待检测物品透过的光线经过积分球后输出至光谱接收器中，光谱接收器将接收到的光线转换成光谱信息并经过数据转换器传输至处理单元中，处理单元将光谱信息处理成透过率，检测平台下方固定安装有第一磁铁，检测平台上方设置有用于定位待检测物品的定位块，定位块在第一磁铁的吸附力下固定在检测平台上。本装置可以方便的实现定位块的固定，当更换待检测物品时，只需要重新调整下定位块的位置即可，采用磁吸的方式固定定位块，可以实现定位块的任意位置可调，适用性广。
基本信息
专利标题 ：
近红外显微透过率测定仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920544717.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-20
授权号 ：
CN209784189U
授权日 ：
2019-12-13
发明人 ：
陈文杰
申请人 ：
深圳市尼柯光学精密技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道创业一路西一巷富源工业区A座2楼
代理机构 ：
北京中济纬天专利代理有限公司
代理人 ：
秦超
优先权 ：
CN201920544717.0
主分类号 ：
G01N21/59
IPC分类号 ：
G01N21/59
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/59
透射率
法律状态
2019-12-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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