一种高时空分辨软X射线辐射流定量测量系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种高时空分辨软X射线辐射流定量测量系统，所述系统被测光源置于两个掠入射X射线显微镜前方，光源发射的X射线分别通过显微镜的两个通道，再经开缝闪烁体、中性衰减片、复合滤片，分别成像于X射线二极管探测器和X射线条纹相机光阴极上，产生光电子，可对X射线辐射流进行高时空分辨测量；与现有技术相比，本实用新型采用掠入射X射线显微镜代替针孔进行成像,提高了测量系统空间分辨率和灵敏度，条纹相机与X射线二极管探测器对比测量，实现条纹相机对X射线辐射流定量测量,提高了辐射流测量的时间分辨率。本实用新型可对纳秒脉冲软X射线源辐射的能流进行高时空分辨的定量测量，在脉冲X射线辐射探测领域具有广泛的应用前景。
基本信息
专利标题 ：
一种高时空分辨软X射线辐射流定量测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920636450.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-06
授权号 ：
CN209784551U
授权日 ：
2019-12-13
发明人 ：
刘慎业杨志文李晋谢旭飞车兴森胡昕
申请人 ：
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址 ：
四川省绵阳市游仙区绵山路64号
代理机构 ：
绵阳山之南专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
沈强
优先权 ：
CN201920636450.8
主分类号 ：
G01T1/29
IPC分类号 ：
G01T1/29
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/29
对辐射束流的测量，例如，测量射束位置或截面；辐射的空间分布的测量
法律状态
2019-12-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN209784551U.PDF
PDF下载
