一种辐射扫描系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种辐射扫描系统，该系统包括辐射扫描空间、光聚焦装置、辐射采集装置、频谱仪、控制系统。所述辐射扫描空间中设置所述光聚焦装置和所述辐射采集装置，且所述辐射采集装置设置在所述光聚焦装置的聚焦区域，在所述辐射扫描空间中还设置有扫描区域，所述扫描区域位于辐射采集装置的辐射采集范围内；所述辐射采集装置与所述频谱仪电连接；所述频谱仪与所述控制系统电连接。解决了现有技术中没有对毫米波/太赫兹(THz)波进行辐射扫描专用设备的技术问题。
基本信息
专利标题 ：
一种辐射扫描系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920705164.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-16
授权号 ：
CN210051905U
授权日 ：
2020-02-11
发明人 ：
俞俊生陈晓东姚远于海洋
申请人 ：
北京中欧美经济技术发展中心
申请人地址 ：
北京市朝阳区安慧北里秀园13号住宅楼2门502室
代理机构 ：
北京德琦知识产权代理有限公司
代理人 ：
郑红娟
优先权 ：
CN201920705164.2
主分类号 ：
G01V3/12
IPC分类号 ：
G01V3/12 G01R29/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测；；地磁场特性的测量；例如，磁偏角或磁偏差
G01V3/12
利用电磁波操作
法律状态
2020-02-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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