探测装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种探测装置，其包括探针卡及探针器。该探针卡包括基板、凸出单元、传感器及复数个探针；该基板具有第一表面以及第二表面，该第二表面相对于该第一表面；该凸出单元设置于该基板，并从该基板的该第一表面凸出；该传感器设置于该凸出单元；及该复数个探针设置于该基板的该第二表面。该探针器包括板体及杆件；该板体包括通孔，该杆件横跨该通孔，并包含容纳单元，其中该容纳单元配置为可容纳该凸起单元，以使该探针卡及该探针器互相接合。
基本信息
专利标题 ：
探测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920707162.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-16
授权号 ：
CN210863827U
授权日 ：
2020-06-26
发明人 ：
温鹏翔张仁瑜林婉婷
申请人 ：
爱德万测试股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹县湖口乡新竹工业区光复路15号
代理机构 ：
北京天驰君泰律师事务所
代理人 ：
孟锐
优先权 ：
CN201920707162.7
主分类号 ：
G01R1/073
IPC分类号 ：
G01R1/073 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2020-06-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
