一种实现局部定位的荧光CT成像系统
授权
摘要
本公开提出了一种实现局部定位的荧光CT成像系统，包括电子源、阳极靶、毛细管聚焦透镜、样品放置台和荧光探测器，电子源发射电子束至阳极靶，阳极靶产生X射线，X射线通过毛细管聚焦透镜进行聚焦，聚焦后的X射线打到样品待检测的局部位置上产生荧光信号，荧光探测器采集样品荧光信号，能够实现样品精确局部区域的CT成像，不需要扫描整个样品，节省了扫描时间，提高了成像效率。透射的X射线被CCD探测器收集，得到了样品的CT数据可用于自吸收校正，进一步提高了成像质量。
基本信息
专利标题 ：
一种实现局部定位的荧光CT成像系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920776088.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-27
授权号 ：
CN210604461U
授权日 ：
2020-05-22
发明人 ：
刘珑丁宁时军波丁秋月李囡刘长安刘军
申请人 ：
山东省分析测试中心
申请人地址 ：
山东省济南市历下区科院路19号
代理机构 ：
济南圣达知识产权代理有限公司
代理人 ：
闫圣娟
优先权 ：
CN201920776088.4
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-05-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
