电子落点位置检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种利用电‑光‑电转换技术的电子落点位置检测装置，主要包括：端部带有电子光转换陷阱的电光转换特殊传像光纤束，光纤固定管，CCD或CMOS图像传感器，固定壳体等；特殊传像光纤集的光纤在接收电子端面自上而下，从左到右均匀地紧密排列，当有电子入射到特殊光纤阵列的电子入射端面上时，电子将进入到特殊光纤阵列的某些光纤端部的电子光转换陷阱中，进入到电子光转换陷阱中的电子轰击电子光转换陷阱表面的荧光粉，使荧光粉受激发光，经特殊传像光纤传送到CCD或CMOS图像传感器中，接收到光的图像传感器单元和电子的落点位置相对应；该装置检测精度高，准确性好，适用于需要检测电子落点位置的仪器仪表中。
基本信息
专利标题 ：
电子落点位置检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920809564.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-31
授权号 ：
CN210952691U
授权日 ：
2020-07-07
发明人 ：
赵春平李志华
申请人 ：
大理大学
申请人地址 ：
云南省大理市古城弘圣路2号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920809564.8
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-07-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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