一种用于多波长荧光同步检测的光学检测装置

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摘要

一种用于多波长荧光同步检测的光学检测装置，包括检测基座和放置有试剂的检测模块，所述检测基座上设置有激发圈和接收圈，所述激发圈通过激发光纤与检测模块连接，所述接收圈通过接收光纤与检测模块连接；所述检测基座上安装有步进电机，所述步进电机的输出轴上安装有由其带动旋转的检测转盘，所述检测转盘上安装有随其转动的多组一一对应的检测组件和光源组件，所述光源组件位于激发圈的正下方，所述检测组件位于接收圈的正下方。本实用新型的检测转盘旋转一周即可实现不同试剂的多个通道同步检测，大大提高检测效率。

基本信息

专利标题：

一种用于多波长荧光同步检测的光学检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920824199.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-03

授权号：

CN210514085U

授权日：

2020-05-12

发明人：

章贤骏凌建鸿戴健方涌宣兆康

申请人：

杭州安誉科技有限公司

申请人地址：

浙江省杭州市江干区大农港路1216号2号楼6层607室

代理机构：

浙江千克知识产权代理有限公司

代理人：

赵芳

优先权：

CN201920824199.8

主分类号：

G01N21/64

IPC分类号：

G01N21/64