热解析进样装置
授权
摘要

本实用新型公开热解析进样装置,热解析进样装置包括上壳体、下壳体、安装于所述上壳体和所述下壳体闭合状态下内部空间的热解析块、进样机构和推拉机构,所述进样机构包括电路板和导槽,所述电路板上开有方形孔,所述导槽安装于方形孔中,所述导槽上开有供取样试纸穿过的孔;所述推拉机构包括步进电机和顶头,所述顶头通过销钉固定在所述步进电机上,所述步进电机通过螺丝固定在上壳体表面,所述热解析块上开有两个圆柱形安装孔以用来安装加热棒和温度传感器。实用新型的热解析进样装置进样口处于封闭状态,从而不容易进灰尘和水蒸汽。

基本信息
专利标题 :
热解析进样装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920824918.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-03
授权号 :
CN209708940U
授权日 :
2019-11-29
发明人 :
刘赤峰邵鲁东潘云霄黄再新曹锦朋柯林椿
申请人 :
深圳市鑫源通电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙岗区平湖街道新木社区新木路225号
代理机构 :
深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘真
优先权 :
CN201920824918.6
主分类号 :
H01J49/04
IPC分类号 :
H01J49/04  G01N27/62  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/02
零部件
H01J49/04
导入或提取待分析试样的装置,如真空锁;电子光学或离子光学部件的外部调节装置
法律状态
2019-11-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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