一种可用于XPS检测系统和原位反应系统的样品托
授权
摘要
本实用新型提供了一种可用于XPS检测系统和原位反应系统的样品托,用于解决现有技术中在XPS检测系统和原位反应系统之间的样品接口不一,需要在XPS检测系统和原位反应系统之间人工传递样品操作复杂、容易污染样品的技术问题,包括:XPS检测系统样品架、转接托、压片和样品托架;所述转接托设置凹槽,可拆卸地固定于所述XPS检测系统样品架上;所述压片固定至所述转接托,所述压片设置为,当所述样品托架插入所述凹槽时,所述压片压紧所述样品托架,将所述样品托架固定在所述凹槽中。实施本实用新型的技术方案可实现在不同的XPS检测系统或者原位反应系统之间进行进行样品传递的技术效果。
基本信息
专利标题 :
一种可用于XPS检测系统和原位反应系统的样品托
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920879695.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-12
授权号 :
CN210514132U
授权日 :
2020-05-12
发明人 :
赵嘉峰高筱
申请人 :
费勉仪器科技(南京)有限公司;费勉仪器科技(上海)有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市江北新区智达路6号智城园区3号楼
代理机构 :
上海精晟知识产权代理有限公司
代理人 :
冯子玲
优先权 :
CN201920879695.3
主分类号 :
G01N23/2273
IPC分类号 :
G01N23/2273 G01N23/2204
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/227
测量光电效应,例如,光电子发射显微镜
G01N23/2273
测量光电子光谱,例如用于化学分析的电子光谱或X射线光电子能谱
法律状态
2020-05-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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