一种便于放置探针卡的探针台
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摘要

本实用新型属于晶圆测试的技术领域,涉及一种便于放置探针卡的探针台,其包括探针台本体、开设于探针台本体上的放卡槽、设置于放卡槽侧壁上的沿边,所述探针台本体上开设有容纳槽,所述容纳槽的横截面面积大于放卡槽的横截面面积,所述容纳槽位于放卡槽的下方,所述容纳槽与放卡槽贯通连接,所述容纳槽的侧壁上固定连接有用于承接探针卡的承接板,所述放卡槽的侧壁上开设有滑槽,所述沿边滑动连接于滑槽中,所述沿边与滑槽之间设置有用于固定沿边的固定装置;本实用新型具有能够对不同长度的探针卡进行放置,有利于晶圆的正常检测的效果。

基本信息
专利标题 :
一种便于放置探针卡的探针台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920882033.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-12
授权号 :
CN210181160U
授权日 :
2020-03-24
发明人 :
孙军
申请人 :
无锡新微阳科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区珠江路49-1号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201920882033.1
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/073  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-03-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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