一种便于测试的探针卡
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摘要

本实用新型公开了一种便于测试的探针卡,包括PCB板,所述PCB板上端固定连接有若干探针,探针围绕形成矩形,探针与PCB板电性连接,PCB板上端设有压紧机构,所述压紧机构包括压板、转动环、弹簧一,PCB板上端两侧开设有转动孔,转动孔内部均转动连接有压板,转动孔宽度大于压板的宽度,压板内部开设有插孔,PCB板两侧插入有插销,插销穿过插孔,压板穿过PCB板,PCB板下端两侧均固定连接有转动环,压板内部开设有插入槽,转动环穿过插入槽,转动环为半圆形,转动环的外侧设有弹簧一,弹簧一位于压板相互靠近的一侧,通过设计有压板,通过压板方便将芯片压紧在探针卡上,使得探针卡与芯片连接稳定,同时方便取出,使得使用人员的测试更加方便。

基本信息
专利标题 :
一种便于测试的探针卡
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020617417.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-22
授权号 :
CN212060364U
授权日 :
2020-12-01
发明人 :
于海超赵梁玉周明
申请人 :
强一半导体(苏州)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州工业园区东长路18号39幢2楼
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020617417.3
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  G01R1/04  G01R1/14  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2020-12-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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