本实用新型公开了一种便于移动的半导体测试探针，具体涉及半导体芯片测试技术领域，包括测试台，所述测试台的顶端表面固定设置有机架，且测试台的顶部前侧表面嵌入设置有显示器，所述机架的一侧设置有测试座，所述测试台的底部表面设有导轨，所述导轨设置为T形结构。本实用新型设置了竖杆、压杆、导向板与弹簧，导向板与在竖杆中滑动并挤压着弹簧，将限位销插入到定位孔一与定位孔二的内部，通过四个万向轮可移动测试台的位置，具有一定的抗缓冲能力，降低使用者劳动强度，设置了丝杠、滑块以及滑杆，滑块根据丝杠的正反向实现升降，滑块在滑杆中滑动，避免了滑块跟随丝杠自转，取代了人工旋转螺杆升降测试导针。