一种便于安装的半导体测试探针
授权
摘要

本实用新型属于半导体测试探针技术领域,尤其是一种便于安装的半导体测试探针,针对了对半导体测试探针进行安装时操作不便以及长时间使用易发生探针掉落的问题,现提出如下方案,其包括安装板以及设于安装板底部的探针本体,安装板还包括卡座;本实用新型中将探针本体的顶端从导向套的中心插入,将探针本体的顶端插入卡座内部形成卡合安装,通过限位弹簧的弹力作用,多个卡块与环形槽进行卡合限位处理,有效增强探针本体在卡座内部的安装稳定性,可有效防止探针本体在长时间使用时发生掉落,同时顶板进行复位处理,通过顶板和卡座分别对探针本体的外表面进行定位处理,从而有效提高探针本体在安装时的稳定性,操作简单,安装稳定性好。

基本信息
专利标题 :
一种便于安装的半导体测试探针
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122534646.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-20
授权号 :
CN216350853U
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
杜永亿
申请人 :
深圳市立高通科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙岗区坂田街道马安堂社区布龙路227号格泰隆工业园D栋214
代理机构 :
深圳市中融创智专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
邹蓝
优先权 :
CN202122534646.6
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2022-04-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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