一种便于更换的半导体测试探针
授权
摘要

本实用新型公开了一种便于更换的半导体测试探针,包括安装板和固定座,所述安装板底部固定安装有固定座,所述固定座下表面固定镶嵌有DC母插,所述DC母插内腔活动插接有DC公插,所述DC公插底部活动连接有探针,所述探针底部活动插接有伸缩探针,所述探针顶部固定连接有二号支撑弹簧。本实用新型探针顶部通过DC公插与DC母插插接连接,且DC公插与DC母插可使探针在使用时进行360度转动,在连接时,不需要特定的安装角度,可使对探针的安装更加的便捷,伸缩探针可进行伸缩,从而避免在测试的过程中,对探针施加的压力过大造成检测点的损坏,使用更加的安全。

基本信息
专利标题 :
一种便于更换的半导体测试探针
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022117359.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-24
授权号 :
CN214041489U
授权日 :
2021-08-24
发明人 :
王睿
申请人 :
西安和光明宸科技有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市高新区丈八街办瞪羚路26号西安理工大学科技园E座312-04
代理机构 :
西安弘理专利事务所
代理人 :
涂秀清
优先权 :
CN202022117359.0
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  G01R31/26  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2021-08-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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