超低频介质损耗测试系统

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摘要

本实用新型公开了超低频介质损耗测试系统，包括测试电路、升压电路、相位差提取与测量系统、主控单元、介质电桥、电路检测单元、数字屏蔽单元、信号调节单元、A/D采集单元、显示模块、CPU控制模块、通讯模块和打印模块，此介质损耗测试系统在介质损耗角正切测试过零时间差原理的基础上，针对超低频电源频率低的特点，通过测试电路设置的测量系统及电阻，使得测量的精度得到了提高，有效地消除了用电阻采样电流时所带来的误差，数字屏蔽通讯单元作用是通过数字屏蔽电缆传输信号，具有很强的抗电磁干扰能力，使得试验的结果更加准确可靠。

基本信息

专利标题：

超低频介质损耗测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920919864.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-19

授权号：

CN210199207U

授权日：

2020-03-27

发明人：

余月仙邵建康李素强

申请人：

上海大帆电气设备有限公司

申请人地址：

上海市闵行区园区北路315弄118号4号楼二楼西侧

代理机构：

合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

宋萍

优先权：

CN201920919864.1

主分类号：

G01R27/26

IPC分类号：

G01R27/26