一种抗干扰介质损耗测试装置
授权
摘要

本实用新型公开一种抗干扰介质损耗测试装置,包括箱体,其特征在于,所述箱体底部设有收纳室,所述收纳室内水平设有安装板,所述安装板通过滑动机构活动安装在收纳室内壁上,所述滑动机构沿竖直方向设置;所述安装板的底部设有多个万向轮;所述安装板内设有用于限制所述安装板与收纳室内壁相对滑动的限位组件。本实用新型通过设置的收纳室可以收纳用于移动装置的万向轮,通过设置的限位组件可以限制万向轮伸出或者收进收纳室内,解决了目前常见的介质损耗测试装置在进行测试时需要将万向轮固定住,防止设备移动,若万向轮固定处出现松动,箱体移动,会影响装置接地,会造成安全隐患,且万向轮与其接触面的摩擦力较小,不方便存放和运输的问题。

基本信息
专利标题 :
一种抗干扰介质损耗测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022196030.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-30
授权号 :
CN213364886U
授权日 :
2021-06-04
发明人 :
黄怀彬
申请人 :
武汉南瑞高科电力科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新二路41号谷方5栋5层D6室
代理机构 :
南京纵横知识产权代理有限公司
代理人 :
徐瑛
优先权 :
CN202022196030.8
主分类号 :
G01R27/26
IPC分类号 :
G01R27/26  G01R1/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量;品质因数的测量,例如通过应用谐振法;损失因数的测量;介电常数的测量
法律状态
2021-06-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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