高电压介质损耗测试装置
专利权的终止
摘要
本实用新型提供一种高电压介质损耗测试装置,采用谐振升压技术替代工频升压,弥补现有的工频升压装置比较笨重,在现场放置和布线比较麻烦,在工频状态下干扰比较严重的问题,对各种频率进行实时跟踪、反馈,并与电桥匹配,具有较好的现场应用价值,能提高对设备的监测作用;它包括:一能输出0~160V,40~70Hz的正弦波电源的变频电源模块;一通过高精度多通道AD转换器实时高速采样标准回路及被试回路的电流信号,经分析计算,从而得出被试品的电容量及介损值的高压介损测量模块及一与所述变频电源模块和高压介损测量模块连接,控制变频电源模块和高压介损测量模块,来完成升压、测量、计算、降压等测试过程,最终得到测量结果的控制模块。
基本信息
专利标题 :
高电压介质损耗测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820055276.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-01-31
授权号 :
CN201237620Y
授权日 :
2009-05-13
发明人 :
刘晓辉李炯
申请人 :
宁波电业局;上海思创电器设备有限公司
申请人地址 :
315000浙江省宁波市环城西路北段377-1号
代理机构 :
上海天翔知识产权代理有限公司
代理人 :
刘粉宝
优先权 :
CN200820055276.X
主分类号 :
G01R27/26
IPC分类号 :
G01R27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量;品质因数的测量,例如通过应用谐振法;损失因数的测量;介电常数的测量
法律状态
2018-02-27 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01R 27/26
申请日 : 20080131
授权公告日 : 20090513
申请日 : 20080131
授权公告日 : 20090513
2009-05-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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