工作电压测试方法、装置、设备及存储介质
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摘要
本发明公开了一种工作电压测试方法、装置、设备及存储介质。其中，所述方法包括：采集无接收光信号时，对应各雪崩光电探测器(APD)偏置电压的APD暗电流；确定对应各所述APD偏置电压的APD倍增因子；基于所述APD暗电流、所述APD倍增因子以及接收光信号时APD光接收组件的特征参数，分别确定对应各所述APD偏置电压的所述APD光接收组件的误码率；所述APD光接收组件的特征参数在数字信号处理器中存储；基于所述误码率，以及误码率与APD偏置电压的对应关系，确定适配所述APD光接收组件的最佳工作电压。
基本信息
专利标题 ：
工作电压测试方法、装置、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111398669A
申请号 ：
CN202010285988.6
公开（公告）日 ：
2020-07-10
申请日 ：
2020-04-13
授权号 ：
CN111398669B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
张红广肖希王磊
申请人 ：
武汉光谷信息光电子创新中心有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区关山街邮科院路88号1幢1-3层
代理机构 ：
北京派特恩知识产权代理有限公司
代理人 ：
王军红
优先权 ：
CN202010285988.6
主分类号 ：
G01R19/25
IPC分类号 ：
G01R19/25 H04B10/60 H04B10/079
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R19/00
用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
G01R19/25
采用数字测量技术
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2020-08-04 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 19/25
申请日 : 20200413
申请日 : 20200413
2020-07-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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