一种偏光片膜厚度均匀性检测装置
授权
摘要
一种偏光片膜厚度均匀性检测装置，包括暗室、检测台、可控光源阵列、相机和滤光片阵列，检测台和相机设置在暗室内，检测台的台面上设置可控光源阵列，可控光源阵列与相机之间用于设置待测膜，所述滤光片阵列用于提供不同的滤光片与相机镜头重合，相机用于采集不同滤光片下待测膜的图像。本实用新型使利用透光膜在不同滤光下散射效果的均匀性，整体检测膜的均匀性。本实用新型有利于及时发现膜生产过程中均匀效果的异常，检测拉伸机的拉伸效果，可以对所有产品进行全检，从而全面提升生产质量，本实用新型无需光谱仪等检测设备，设备成本低。
基本信息
专利标题 ：
一种偏光片膜厚度均匀性检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920945624.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-22
授权号 ：
CN209945263U
授权日 ：
2020-01-14
发明人 ：
王雷袁博肖观学
申请人 ：
四川奥希特电子材料有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市双流区青栏路1779号
代理机构 ：
南京天翼专利代理有限责任公司
代理人 ：
奚铭
优先权 ：
CN201920945624.9
主分类号 ：
G01B11/06
IPC分类号 ：
G01B11/06 G01N21/47
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2020-01-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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