一种光学膜层厚度测量仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种光学膜层厚度测量仪，包括：一机体，所述机体的正面设置有控制面板；一电路主板，所述电路主板位于所述机体的内部，且所述电路主板的两个支脚均与所述机体内侧底部固定安装的固定板相连接。本实用提供的光学膜层厚度测量仪，电压信号从A1的引脚一输入，经LM311电压比较器的V/F变换，使得电压转换为0‑1KHz的频率信号，VR1调节最低频率，RP1调节最高频率。A1的引脚三输出的频率信号到CPLD数字逻辑处理芯片与基准11MHz比对，形成膜厚数据，由4位数码管显示出0－999.9的数字显示。增加了显示范围的值域，便于装置对膜厚度进行检测的时候厚便于分辨变化量，很好解决在使用过由于显示值域过程，造成的分辨不清变化量的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种光学膜层厚度测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920952274.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-24
授权号 ：
CN209945264U
授权日 ：
2020-01-14
发明人 ：
薛照明李围红李成千薛海
申请人 ：
成都金雅克电气有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市武侯区武侯新管委会武青南路40号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920952274.9
主分类号 ：
G01B11/06
IPC分类号 ：
G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2020-01-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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