一种光耦检测装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种光耦检测装置，包括输入电压调节回路、输出回路以及光耦，所述输入电压调节回路连接光耦的输入端，输出回路连接光耦的输出端；输入电压调节回路包括第一电源、可调电位器以及限流电阻，第一电源的正极通过可调电位器连接光耦输入端的正极，第一电源的负极通过限流电阻连接光耦输入端的负极，通过可调电位器调节输入电压调节回路中的电流大小，实现改变光耦中发光二极管的发光强度，进而实现调节光耦输出端的电压，根据光耦输出端的电压判断光耦是否合格。解决了现有技术中使用万用表检测存在的问题，使用本实用新型的光耦检测装置对光耦元件的检测准确率达到100％，同时大大的提高了检测的效率，节约了人力和检测的时间成本。
基本信息
专利标题 ：
一种光耦检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920982330.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-27
授权号 ：
CN210376543U
授权日 ：
2020-04-21
发明人 ：
吴晓喜肖峰阮志新
申请人 ：
湖南联诚轨道装备有限公司
申请人地址 ：
湖南省株洲市石峰区田心北门
代理机构 ：
长沙七源专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
郑隽
优先权 ：
CN201920982330.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-04-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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