晶片检测装置

专利权的终止

摘要

本实用新型的晶片检测装置，在一机台上设有一架体供插入检测接口，在相对应于架体的下方设有一可受第一驱动组件带动而与架体相对水平横向位移的滑台，于滑台上设有一可受第二驱动组件带动而与架体相对上下位移的载台供放置晶片；俾构成一种方便更换检测接口，以及尤适合搭配自动取放料设备达到完全自动化运作的晶片检测装置；尤其，架体的下方与载台的上方分别设有相对应配置的锥孔与锥块，藉以提升整体晶片检测以及读取晶片中讯息与内容的准确度。

基本信息

专利标题：

晶片检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820001279.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-02-01

授权号：

CN201149609Y

授权日：

2008-11-12

发明人：

许宗寅

申请人：

源程科技股份有限公司

申请人地址：

台湾省桃园县芦竹乡内厝村南山路三段一七巷四二号

代理机构：

北京申翔知识产权代理有限公司

代理人：

周春发

优先权：

CN200820001279.5

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00 G01R31/02