一种晶片电阻检测装置

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摘要

本实用新型涉及晶片电阻检测装置技术领域，尤其涉及一种晶片电阻检测装置，解决现有技术中存在检测效率低、易导致误检测的缺点，包括安装板和电磁阀，所述安装板的两侧分别通过沉头螺栓固定连接有对称布置的连接板，所述连接板的一侧滑动设置有检测板，两个检测板的端部分别固定设置有对称布置的检测臂一和检测臂二，所述检测臂一和检测臂二的端部分别固定设置有第一检测头和第二检测头，通过第一检测头和第二检测头等结构的设置，在传统检测装置的基础上，增设了一组检测头，可以确保两组检测头能够完全与晶片电阻接触，从而避免了接触不良的情况，检测精确度显著提高，具有较强的实用性。

基本信息

专利标题：

一种晶片电阻检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020316709.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-15

授权号：

CN212083545U

授权日：

2020-12-04

发明人：

胡火明

申请人：

昆山达优精密机械有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市昆山市周市镇杜河泾路359号5号房

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202020316709.3

主分类号：

G01R27/02

IPC分类号：

G01R27/02