晶片检测装置

专利权的终止

摘要

本实用新型涉及一种检测装置，特别涉及一种晶片检测装置。晶片定位平板上设有连接大度轮的安装孔，所述晶片定位平板为耐磨的氧化锆陶瓷平板，晶片定位平板上设有多个吸气孔。本实用新型能够避免晶片遭受磨损，并且还便于放置晶片，以及能使晶片紧贴于平板上的优点。

基本信息

专利标题：

晶片检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820041142.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-07-30

授权号：

CN201237494Y

授权日：

2009-05-13

发明人：

任先林宋秦川

申请人：

常州松晶电子有限公司

申请人地址：

213127江苏省常州市新北区春江镇德胜路121号

代理机构：

常州市维益专利事务所

代理人：

何学成

优先权：

CN200820041142.2

主分类号：

G01B5/24

IPC分类号：

G01B5/24

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01B

长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量

G01B5/24

•用于计量角度或锥度；用于轴线准直检测

法律状态

2013-09-18 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101522924124
IPC(主分类) : G01B 5/24
专利号 : ZL2008200411422
申请日 : 20080730
授权公告日 : 20090513
终止日期 : 20120730

2009-05-13 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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