晶片检测装置
实质审查的生效
摘要
本申请提供一种晶片检测装置，包括一夹持具与一探针卡。夹持具用以夹持一晶片。探针卡设置于一地面，并位于夹持具与地面之间，且位于夹持具的下方，且探针卡的一检测侧背向地面。夹持具夹持晶片朝向探针卡移动，并使晶片的一检测面接触探针卡。本申请能够提升检测工艺的时间以及效率，可降低操作风险，大幅提升工艺品质。
基本信息
专利标题 ：
晶片检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114441805A
申请号 ：
CN202011227944.4
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2020-11-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
傅廷明
申请人 ：
华邦电子股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台中市
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
单晓双
优先权 ：
CN202011227944.4
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/04
申请日 : 20201106
申请日 : 20201106
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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