一种石英晶片检测装置

专利权的终止

摘要

本实用新型涉及石英晶片技术领域，且公开了一种石英晶片检测装置，解决了目前市场上的石英晶片检测装置携带不便，无法结合携带同时使用，取出时，耗时长，利用效果差、出现损坏时，需要进行大量的拆卸，无法快速实现内部检修工作的问题，其包括主体，所述主体的底部固定有底座，底座的一端安装有升降块，底座的底部安装有放置箱，放置箱的内腔安装有橡胶条，升降块的侧面固定有移动块，移动块延伸至放置箱侧壁内腔的一端螺纹连接有升降杆，升降杆的顶部安装有调节杆，放置箱另一侧的侧壁内腔安装有定位杆；本实用新型，具有携带便捷，可结合携带工具进行使用，利用效果好、出现损坏时，只需进行局部拆卸，即可实现整体检修的优点。

基本信息

专利标题：

一种石英晶片检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921502975.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-11

授权号：

CN210321786U

授权日：

2020-04-14

发明人：

梁万丰肖华肖林

申请人：

万安县凯晶电子科技有限公司

申请人地址：

江西省吉安市万安县工业园一期(万安东翔塑料包装制品有限公司院内)

代理机构：

南昌贤达专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

范鑫鑫

优先权：

CN201921502975.9

主分类号：

G01D11/00

IPC分类号：

G01D11/00