一种高基频石英MASE晶片检测装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

一种高基频石英MASE晶片检测装置,包括底座,所述底座上设置有晶片支撑台,所述晶片支撑台通过水平调节器固定在支撑台基座上,所述晶片支撑台的下方设置有测试下探针和下探针上下调节器,其特征在于:所述晶片支撑台两侧的底座上分别安装有左支架和右支架,所述右支架上安装有光学放大镜,所述左支架上安装有高精度螺旋调节器,所述高精度螺旋调节器的底部安装有测试上探针,所述测试上探针位于晶片支撑台的正上方。本实用新型结构简单、操作方便、检测效率高、晶片破损率低。

基本信息
专利标题 :
一种高基频石英MASE晶片检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921143423.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-20
授权号 :
CN210376552U
授权日 :
2020-04-21
发明人 :
喻信东钟院华方豹杨飞
申请人 :
湖北泰晶电子科技股份有限公司
申请人地址 :
湖北省随州市曾都经济开发区
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921143423.3
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-09-08 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01R 31/00
变更事项 : 专利权人
变更前 : 湖北泰晶电子科技股份有限公司
变更后 : 泰晶科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 441300 湖北省随州市曾都经济开发区
变更后 : 441300 湖北省随州市曾都经济开发区
2020-04-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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