晶片盒的晶片固定机构检测装置
专利权的终止
摘要

一种晶片盒的晶片固定机构检测装置,是由放晶片用的检测台、晶片盒规格判别器、位置感测器组与控制电路组成。晶片盒规格判别器对应于待检测的晶片盒的一个判定区域设置,并依据从判定区域所得到的结果输出一个判定信号。每一位置感测器组则用来检测一种规格的晶片盒,且各位置感测器组包括光源发射端与光源接收端,其中光源发射与接收端是相对于晶片盒的一个晶片固定机构的位置配置,以检测其是否正常。控制电路是用以接收由晶片盒规格判别器输出的判定信号来选择一组位置感测器组来进行晶片固定机构的位置的检测。

基本信息
专利标题 :
晶片盒的晶片固定机构检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620121333.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-06-26
授权号 :
CN200989773Y
授权日 :
2007-12-12
发明人 :
陈辰昌
申请人 :
联华电子股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾新竹科学工业园区
代理机构 :
北京市柳沈律师事务所
代理人 :
陶凤波
优先权 :
CN200620121333.0
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01R31/00  H01L21/66  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2015-08-12 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101621004587
IPC(主分类) : G01B 11/00
专利号 : ZL2006201213330
申请日 : 20060626
授权公告日 : 20071212
终止日期 : 20140626
2007-12-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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