一种声发射传感器的幅频特性的测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种声发射传感器的幅频特性的测试系统，包括：扫频激励源、弹性波激励器、楔形体结构、声发射传感器及声发射信号采集系统，楔形体结构采用与待测损伤固体相同的材料制成，扫频激励源与弹性波激励器通信连接，声发射传感器与声发射信号采集系统通信连接。本实用新型的测试系统针对声发射传感器幅频响应特性取决于声发射传感器和被测固体的材料与结构的相互作用、以及两者相互匹配的重要特性，实现将待测的声发射传感器的幅频特性以二维散点图的方式进行示意，从而更加直观的表示出待测的声发射传感器的幅频特性，以便后续针对当前待测损伤固体材料选择幅频特性最好的声发射传感器。
基本信息
专利标题 ：
一种声发射传感器的幅频特性的测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920984786.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-27
授权号 ：
CN210427470U
授权日 ：
2020-04-28
发明人 ：
付涛田昕梁晓辉温茂萍周红萍
申请人 ：
中国工程物理研究院化工材料研究所
申请人地址 ：
四川省绵阳市绵山路64号
代理机构 ：
四川省成都市天策商标专利事务所
代理人 ：
郭会
优先权 ：
CN201920984786.3
主分类号 ：
G01N29/14
IPC分类号 ：
G01N29/14 G01N29/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/14
利用声波发射技术
法律状态
2020-04-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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