一种晶圆剪切力测试机
授权
摘要

本实用新型公开了一种晶圆剪切力测试机,涉及微电子测试领域。包括底座、支持座,以及设置于底座和支持座之间的支撑桩,所述支持座的两侧对称设置有测试臂;还包括设置于底座上的支撑杆,所述支撑杆上套设滑动环,滑动环上水平设置支持板,所述支持板的末端设置观察仪;所述底座上还设置有位移平台,所述位移平台上设置有位移机构,所述位移机构的顶端还包括放置平台,放置平台在竖直方向上的位置高度低于支持座和观察仪的高度,且测试臂的测试针的针头与放置平台接触;还包括数据处理模块。本实用新型可进行各种推拉力和剪切力测试,并且操作模式简易、方便、有效。

基本信息
专利标题 :
一种晶圆剪切力测试机
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920990218.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-26
授权号 :
CN210166244U
授权日 :
2020-03-20
发明人 :
蒋次为
申请人 :
成都汉芯国科集成技术有限公司
申请人地址 :
四川省成都市高新区(西区)合作路89号
代理机构 :
成都弘毅天承知识产权代理有限公司
代理人 :
梁伟东
优先权 :
CN201920990218.4
主分类号 :
G01N3/24
IPC分类号 :
G01N3/24  G01N3/02  G01N3/06  G01N3/08  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/24
施加稳定的剪切力
法律状态
2020-03-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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