托卡马克密度涨落和电磁场涨落相关性测量装置
授权
摘要

本实用新型属于核聚变等离子体诊断领域,具体一种托卡马克密度涨落和电磁场涨落相关性测量装置。包括发射微波源和微波本征源,包括与发射微波源连接的微波发射链路、与微波本征源连接的微波本征链路、微波接收天线、正交模转换器;微波接收天线上安装角度旋转装置。本装置能够实现严格的等离子体密度涨落和磁涨落分别同时测量,从而实现局域测量物理量之间的相关性计算,系统具有集成度高,简便灵活,成本低,易维护的特点。

基本信息
专利标题 :
托卡马克密度涨落和电磁场涨落相关性测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920992652.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-28
授权号 :
CN210604793U
授权日 :
2020-05-22
发明人 :
钟武律石中兵杨曾辰梁桉树闻杰段旭如
申请人 :
核工业西南物理研究院
申请人地址 :
四川省成都市双流西南航空港黄荆路5号
代理机构 :
核工业专利中心
代理人 :
高安娜
优先权 :
CN201920992652.6
主分类号 :
G01R29/08
IPC分类号 :
G01R29/08  H05H1/00  G21B1/25  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
法律状态
2020-05-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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