一种面成像荧光光谱分析系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种面成像荧光光谱分析系统,尤其适用于分辨手术中误切除的甲状旁腺辨技术领域,包括检测暗箱,所述检测暗箱内包括:光源机构,用于提供激发样品荧光的光源,所述光源机构包括若干不同波长光源;成像机构,用于收集样品被激发出的自发荧光的图像,所述成像机构可以切换所接收光的波段;样品托盘,用于放置样品;所述光源机构与成像机构相互配合,还包括计算机、显示屏和电源,所述计算机设于样品仓外,计算机分别与光源机构、成像机构连接,所述显示屏与计算机连接,所述电源分别与光源机构、成像机构、计算机和显示屏连接。本实用新型可以不同波长的激发光照射对大面积的组织进行一次性荧光成像,有别于传统荧光分光光度计的点的波长与强度信息测量,尤其适用于分辨手术中误切除的甲状旁腺辨。
基本信息
专利标题 :
一种面成像荧光光谱分析系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921014395.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-29
授权号 :
CN210221821U
授权日 :
2020-03-31
发明人 :
章一新禹正杨郭昌盛杨聪周鹏贺青卿谢磊李科
申请人 :
济南显微智能科技有限公司
申请人地址 :
山东省济南市历城区舜华路街道开拓路1351号副楼201室
代理机构 :
济南瑞宸知识产权代理有限公司
代理人 :
徐健
优先权 :
CN201921014395.5
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2020-03-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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