一种基体分离测试焊锡中杂质的测试装置
专利权的终止
摘要
本实用新型涉及杂质检测技术领域，尤其涉及一种基体分离测试焊锡中杂质的测试装置，包括：中央处理器、红外光发射器及红外光传感器。通过红外光发射器实现了对红外光电路的恒流驱动发光，产生的稳定红外光发射到基体分离测试焊锡中，经过CCD图像传感器对焊锡中杂质进行成像分析处理，分析结果数据传输至中央处理器处理与预存的样本数据进行对比，并通过LCD显示屏显示出来。提供了稳定的红外光，提高了检测精度及准确性，减小测量误差；集图像采集、杂质检测及触摸显示于一体、智能控制、操作方便快捷，简便检测过程。
基本信息
专利标题 ：
一种基体分离测试焊锡中杂质的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921015180.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-01
授权号 ：
CN210665489U
授权日 ：
2020-06-02
发明人 ：
张军刘旭深陈玉巧
申请人 ：
深圳市安普检测技术服务有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区松岗街道红星社区宝安大道8728号2楼、3楼
代理机构 ：
深圳市华盛智荟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
孙成
优先权 ：
CN201921015180.5
主分类号 ：
G01N21/35
IPC分类号 ：
G01N21/35
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
法律状态
2022-06-14 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 21/35
申请日 : 20190701
授权公告日 : 20200602
终止日期 : 20210701
申请日 : 20190701
授权公告日 : 20200602
终止日期 : 20210701
2020-06-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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