一种硅锭尺寸检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种硅锭尺寸检测设备，包括：检测支架，所述检测支架上下左右四个方向分别设有测距传感器；对中气缸，用于将硅锭与所述四个测距传感器围成的中心位置进行对中；驱动件，与所述检测支架连接，用于在所述硅锭满足对中条件后驱动所述硅锭移动以实现尺寸检测。本实用新型提供的硅锭尺寸检测设备，可以实现硅锭尺寸的自动化检测。
基本信息
专利标题 ：
一种硅锭尺寸检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921062722.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-08
授权号 ：
CN210893036U
授权日 ：
2020-06-30
发明人 ：
申浩波
申请人 ：
北京森沃克莱科技有限公司
申请人地址 ：
北京市丰台区科学城星火路11号3幢（A座）5058室（园区）
代理机构 ：
北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张学府
优先权 ：
CN201921062722.4
主分类号 ：
G01B21/00
IPC分类号 ：
G01B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
法律状态
2020-06-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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