任意姿态光学元件在位面形检测装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种任意姿态光学元件在位面形检测装置,结构灵活,用工业机器人取代了干涉仪的各种支撑调节平台和装置,使干涉仪的位置姿态调整更方便,同时简化了光学元件支撑机构,使其可以不用具有自由度调节功能;方法新颖,将动态干涉仪与工业机器人相结合,解决了重力倾斜姿态下的在位面形测量问题;应用范围广,可以同时满足各种姿态下的面形测量问题;环境适应性好,使用动态干涉仪,能够将干涉测量扩展到各种测量环境中,同时保证其测量精度和重复性;测量简单高效,引入了干涉条纹监控系统,实现了干涉条纹的自动调整,提高了测量效率。

基本信息
专利标题 :
任意姿态光学元件在位面形检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921157295.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-22
授权号 :
CN209927102U
授权日 :
2020-01-10
发明人 :
李萌阳曹庭分蒋晓东周海张尽力全旭松易聪之
申请人 :
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址 :
四川省绵阳市游仙区绵山路64号
代理机构 :
重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
蔡冬彦
优先权 :
CN201921157295.8
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2021-07-06 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20190722
授权公告日 : 20200110
终止日期 : 20200722
2020-01-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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