光学元件面形修复的刻蚀装置
专利权的终止
摘要

本实用新型提供了一种对光学元件的面形进行高精度修复的刻蚀装置,包括装架、刻蚀头、三维移动平台和计算机,所述刻蚀头安装在三维移动平台上,三维移动平台通过控制线与计算机相连,所述刻蚀头由放置易挥发有机溶剂的容器和刻蚀液容器组成,所述容器设置在刻蚀液容器的外部四周,所述容器上端开口,所述刻蚀液容器上设置有刻蚀液出口。本实用新型由于采用由易挥发的有机溶液对刻蚀区域进行限制,实现了可控的“化学磨头”效果,对光学元件“污染”较少,可以有效避免传统加工中引进的抛光原料的杂质和加工过程中产生的亚表面缺陷,可以对目前较为困难的薄基片和中等口径的光学元件进行高精度、无污染的面形修复。

基本信息
专利标题 :
光学元件面形修复的刻蚀装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620035934.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-10-20
授权号 :
CN200967788Y
授权日 :
2007-10-31
发明人 :
许乔侯晶张清华王健雷向阳周礼书陈宁
申请人 :
成都精密光学工程研究中心
申请人地址 :
610041四川省成都市高新区科园一路3号
代理机构 :
成都虹桥专利事务所
代理人 :
蒲敏
优先权 :
CN200620035934.X
主分类号 :
C03C15/00
IPC分类号 :
C03C15/00  
IPC结构图谱
C
C部——化学;冶金
C03
玻璃;矿棉或渣棉
C03C
玻璃、釉或搪瓷釉的化学成分;玻璃的表面处理;由玻璃、矿物或矿渣制成的纤维或细丝的表面处理;玻璃与玻璃或与其他材料的接合
C03C15/00
纤维和丝之外的蚀刻法玻璃表面处理
法律状态
2014-12-10 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101591366657
IPC(主分类) : C03C 15/00
专利号 : ZL200620035934X
申请日 : 20061020
授权公告日 : 20071031
终止日期 : 20131020
2007-10-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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