平面度测量仪器

授权

摘要

本实用新型公开了一种平面度测量仪器，包括底座、设于底座的支架、设于支架并相对支架可升降的滑动组件，以及设于滑动组件的检测表，所述支架包括呈预设夹角固定连接的第一支架与第二支架，所述滑动组件设于第二支架，所述第一支架中部穿设一销轴，并通过所述销轴与底座可转动连接；所述第一支架与底座之间设有调节件与第一弹性件，所述调节件用于调节第一支架远离销轴一端与底座之间的距离，所述第一弹性件用于持续提供第一支架的远离销轴一端下压底座的力。本实用新型提供的平面度测量仪器，平面度检测方便快捷。

基本信息

专利标题：

平面度测量仪器

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921195200.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-07-27

授权号：

CN210268504U

授权日：

2020-04-07

发明人：

庞宇余角

申请人：

深圳市锴诚精密模具有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙岗区平湖街道上木古社区平新北路29号达尔讯工业园1号厂房一楼东座

代理机构：

深圳茂达智联知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

刘飞燕

优先权：

CN201921195200.1

主分类号：

G01B5/28

IPC分类号：

G01B5/28